Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

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Internacional
$292.20
SKU:
9780471624639
Autor:
Bardell
Editorial:
Global Research
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Titulo: Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Año: 1987

Autor: Bardell

Editorial: Global Research

Lenguaje: 

ISBN: 9780471624639

SKU-INT: WLEY008209

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