Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications

(No reviews yet) Write a Review
Internacional
$154.69
SKU:
9783527411528
Autor:
Servin
Editorial:
Global Research

Product Overview

Importante: este producto es importado y puede tener una demora de 30 días. 

Titulo: Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications

Año: 2014

Autor: Servin

Editorial: Global Research

Lenguaje: 

ISBN: 9783527411528

SKU-INT: WLEY028946

Reviews

(No reviews yet) Write a Review