IMP -Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques

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Internacional
$256.11
SKU:
9780412145612
Autor:
Lawrence C. Wagner
Editorial:
Chapman and Hall
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Product Overview

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Titulo: Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques

Formato: Hardback

Autor: Lawrence C. Wagner

Editorial: Chapman and Hall

Lenguaje: English

Páginas: 255

ISBN: 9780412145612

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