IMP -La cara oculta de los test de inteligencia : un análisis crítico

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Internacional
$59.19
SKU:
9788497421058
Autor:
ANASTASIO OVEJERO BERNAL
Editorial:
BIBLIOTECA NUEVA
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Product Overview

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Titulo: La cara oculta de los test de inteligencia : un análisis crítico

Formato: Paperback

Autor: ANASTASIO OVEJERO BERNAL

Editorial: BIBLIOTECA NUEVA

Lenguaje: Spanish

Páginas: 320

ISBN: 9788497421058

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