IMP -Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices

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Internacional
$200.70
SKU:
9780120885749
Autor:
Milton Ohring
Editorial:
Elsevier Science Publishing Co Inc
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Product Overview

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Titulo: Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices

Formato: Hardback

Autor: Milton Ohring

Editorial: Elsevier Science Publishing Co Inc

Lenguaje: English

Páginas: 758

ISBN: 9780120885749

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