IMP -Thermal Testing of Integrated Circuits

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Internacional

$100.61

SKU:

9781402070761

Autor:

J. Altet

Editorial:

Springer-Verlag New York Inc.

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Titulo: Thermal Testing of Integrated Circuits

Formato: Hardback

Autor: J. Altet

Editorial: Springer-Verlag New York Inc.

Lenguaje: English

Páginas: 204

ISBN: 9781402070761

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