Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

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Uruguayan Peso
$9,188.73
SKU:
9783527310524
Autor:
Birkholz
Editorial:
Global Research
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Titulo: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

Año: 2005

Autor: Birkholz

Editorial: Global Research

Lenguaje: 

ISBN: 9783527310524

SKU-INT: WLEY027402

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